四十多年過去了，近場測量技術已由理論研究進入了應用研究階段，并由頻域延拓到了時域，它不僅能夠測量天線的輻射特性，而且能夠診斷天線口徑分布，為設計提供可靠、準確設計依據;與此同時，人們利用它進行了目標散射特性的研究，即隱身技術和反隱身技術的研究，從而使該技術的研究有了新的研究手段，進而使此項研究進入了用近場測量的方法對目標成像技術的探索階段。
二、近場測量技術發展的過程
近場測量的技術研究從五十年代發展至今，其研究方向大致經歷四個階段，如表1所示。
表1 近場測量技術所經歷的時間
各個時期的研究內容可概述為以下幾個方面
1.理論研究
在Barrett等人的實驗之后，Richnlond等人用空氣和介質填充的開口波導分別測量了微波天線的近場，并把由近場測量所計算得到的方向圖與直接遠場法測得的結果相比較，其方向圖在主瓣和第一副瓣吻合較好，遠副瓣和遠場法相差較大。于是人們就分析其原因，最終歸結為探頭是非理想起點源所致，因此，出現了各種方法的探頭修正理論。直到1963年Karns等人提出了平面波分析理論才從理論上嚴格地解決了非點源探頭修正的問題。與此同時，Paris和Leach等人用羅侖茲互易定理也推出了含有探頭修正的平面波與柱面波展開表達式[1，2]。Joy 等人也給出了含有探頭修正下的球面波展開式及其應用[3 ]。至此，頻域近場測量模式展開理論已完全成熟，因此研究者的目光投向了應用領域。在隨后的十年里，美國標準局(NBS)等研究機構進行大量的實驗證明此方法的準確性[4]，其中取樣間隔、探頭型式的選擇以及誤差分析是研究者們關心的熱門問題。
2.取樣間隔及取樣間距
由于模式展開理論是建立在付里葉變換的基礎上，根據付里葉變換中抽樣定理[5]，對帶寬有限的函數。用求和代替積分，用增量代替積分元不引人計算誤差，而平面、柱面、球面的模式展開式對輻射場而言都是帶寬有限的函數，忽略探頭與被測天線間的電抗耦合(取樣間距選取的準則)，取樣間隔與取樣間距按表2所示的準則進行選取(參看圖1坐標系)。
