從70年代后期，近場測量技術已走向適用化，據不完全統計世界已有五十多家研究機構相繼建立了近場測量系統。
近場測量的局限性
頻域近場測量四種取樣方式的特點如表 7所示，從這個表格可以看出，部分應用研究方向仍是未來研究繼續探討的方向。回顧過去的前人所做的工作，可以看出未來研究工作應集中以下幾個方向：
1.柱面、球面各項誤差的分析.這方面雖有進展，但截止目前尚未見公開
報導。
2.低或超低副瓣天線的實時檢測口徑診斷雖然有了可喜的進展 [21-24]，但距
實用還相差較遠。
3.目標散射特性的研究目前僅限于簡單目標的特性實驗研究 [17.20]，復雜目
標的實驗研究尚處于探索時期，近場散射測量的探頭型式還須進一步的探討。
4.目標成像的研究雖剛剛起步 [25,26]，但應用前景非常廣闊。
